| Titre : |
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Guinebretière René, Auteur |
| Mention d'édition : |
2eme édition |
| Editeur : |
Paris : Lavoisier |
| Année de publication : |
2006 |
| Collection : |
Hermes science |
| Importance : |
361p |
| Présentation : |
couv:ill |
| Format : |
25cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-7462-1238-1 |
| Langues : |
Français (fre) |
| Index. décimale : |
E537.535 |
| Résumé : |
Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux.
Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.
Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. |
| Note de contenu : |
Introduction historique : découverte des rayons X et premiers travaux de radiocristallographie
Éléments théoriques de base, instrumentation et exploitation usuelle des résultats
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentation en diffraction des rayons X
Traitement des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats |
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins [texte imprimé] / Guinebretière René, Auteur . - 2eme édition . - Paris : Lavoisier, 2006 . - 361p : couv:ill ; 25cm. - ( Hermes science) . ISBN : 978-2-7462-1238-1 Langues : Français ( fre)
| Index. décimale : |
E537.535 |
| Résumé : |
Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux.
Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.
Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées. |
| Note de contenu : |
Introduction historique : découverte des rayons X et premiers travaux de radiocristallographie
Éléments théoriques de base, instrumentation et exploitation usuelle des résultats
Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
Instrumentation en diffraction des rayons X
Traitement des données, extraction de l'information
Exploitation des résultats |
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